1. Nanometer-scale defect detection using polarized light /
پدیدآورنده : Pierre Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
کتابخانه: Center and Library of Islamic Studies in European Languages (Qom)
موضوع : Materials-- Defects-- Analysis.
رده :
TA409
.
D34
2016